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淺談模擬電路故障原因與診斷方法
（作者未知） 2010/6/21
論文關(guān)鍵詞 模擬電路 故障 診斷
論文摘要 隨著電路系統(tǒng)集成度的不斷增大，模擬電路中的故障成本占據(jù)集成電路總診斷成本的絕大部分，因此加強模擬電路故障診斷與排除的研究十分重要。首先分析模擬電話故障的類型與原因，隨后詳細(xì)介紹幾種故障的診斷方法。
一、模擬電路故障
電路(系統(tǒng))誕失規(guī)定功能稱為故障，在模擬電路中的故障類型及原因如下：從故障性質(zhì)來分有早期故障、偶然故障和損耗故障。早期故障是由設(shè)計、制造的缺陷等原因造成的、在使用初期發(fā)生的故障，早期故障率較高并隨時間而迅速下降。統(tǒng)計表明，數(shù)字電路的早期故障率為3～10％，模擬電路的早期故障率為1～5％，晶體管的早期故障率為0.75～2％，二極管的早期故障率為0.2～1％，電容器的早期故障率為0.1～1％。
偶然故障是由偶然因素造成的、在有效使用期內(nèi)發(fā)生的故障，偶然故障率較低且為常數(shù)。損耗故障是由老化、磨損、損耗、疲勞等原因造成的、在使用后期發(fā)生的故障，損耗故障率較大且隨時間迅速上升。從故障發(fā)生的過程來分有軟故障、硬故障和間歇故障。軟故障又稱漸變故障，它是由元件參量隨時間和環(huán)境條件的影響緩慢變化而超出容差造成的、通過事前測試或監(jiān)控可以預(yù)測的故障。硬故障又稱突變故障。它是由于元件的參量突然出現(xiàn)很大偏差(如開路、短路)造成的、通過事前測試或監(jiān)控不能預(yù)測到的故障。根據(jù)實驗經(jīng)驗統(tǒng)計，硬故障約占故障率的80％，繼續(xù)研究仍有實用價值。間歇故障是由老化、容差不足、接觸不良等原因造成的、僅在某些特定情況下才表現(xiàn)出來的故障。從同時故障數(shù)及故障間的相互關(guān)系來分有單故障、多故障、獨立故障和從屬故障。單故障指在某一時刻故障僅涉及一個參量或一個元件，常見于運行中的設(shè)備。多故障指與幾個參量或元件有關(guān)的故障，常見于剛出廠的設(shè)備。獨立故障是指不是由另一個元件故障而引起的故障。從屬故障是指由另一個元件故障引起的故障。
二、測前橫擬法SBT
測前模擬法又稱故障字典法FD(Fault Dictionary)或故障模擬法，其理論基礎(chǔ)是模式識別原理，基本步驟是在電路測試之前，用計算機模擬電路在各種故障條件下的狀態(tài)，建立故障字典；電路測試以后，根據(jù)測量信號和某種判決準(zhǔn)則查字典。從而確定故障。選擇測試測量點是故障字典法中最重要的部分。為了在滿足隔離要求的條件下使測試點盡可能少，必須選擇具有高分辨率的測試點。在大多數(shù)情況F，字典法采用查表的形式，表中元素為d…i=l，2，…，n，j=1，2，…，m，n是假設(shè)故障的數(shù)目，m是測量特性數(shù)。
故障字典法的優(yōu)點是一次性計算，所需測試點少，幾乎無需測后計算，因此使用靈活，特別適用于在線診斷，如在機艙、船艙使用。此法缺點是故障經(jīng)驗有限，存儲容量大，大規(guī)模測試?yán)щy，目前主要用于單故障與硬故障的診斷。
故障字典法按建立字典所依據(jù)的特性又可分為直流法、頻域法和時域法。
(一)直流故障字典法。直流故障字典法是利用電路的直流響應(yīng)作為故障特征、建立故障字典的方法，其優(yōu)點是對硬故障的診斷簡單有效，相對比較成熟。
(二)頻域法。頻域法是以電路的頻域響應(yīng)作為故障特征、建立故障字典的方法，其優(yōu)點是理論分析比較成熟，同時硬件要求比較簡單，主要是正弦信號發(fā)生器、電壓表和頻譜分析儀。
(三)時域法。時域法是利用電路的時域響應(yīng)作為故障特征而建立故障字典的方法。主要有偽噪聲信號法和測試信號設(shè)計法(輔助信號法)。當(dāng)故障字典建立后，就可根據(jù)電路實測結(jié)果與故障字典中存儲的數(shù)據(jù)比較識別故障。
三、測后模擬法SAT
測后模擬法又稱為故障分析法或元件模擬法，是近年來雖活躍的研究領(lǐng)域，其特點是在電路測試后，根據(jù)測量信息對電路模擬，從而進(jìn)行故障診斷。根據(jù)同時可診斷的故障是否受限，SAT又分為任意故障診斷(或參數(shù)識別技術(shù))及多故障診斷(或故障證實技術(shù))。
(一)任意故障診斷。此法的原理是利用網(wǎng)絡(luò)響應(yīng)與元件參數(shù)的關(guān)系，根據(jù)響應(yīng)的測量值去識別(或求解)網(wǎng)絡(luò)元件的數(shù)值，再根據(jù)該值是否在容差范圍之內(nèi)來判定元件是否故障。所以此法稱為參數(shù)識別技術(shù)或元件值的可解性問題，理論上這種方法能查出所有元件的故障，故又稱為任意故障診斷。診斷中為了獲取充分的測試信息，需要大量地測試數(shù)據(jù)。
(二)多故障診斷。經(jīng)驗證明，在實際應(yīng)用中(高可靠電路)，任意故障的可能性很小，單故障概率最高，如果考慮一個故障出現(xiàn)可能導(dǎo)致另一相關(guān)故障，假定兩個或幾個元件同時發(fā)生的多故障也是合理的。另外對于模擬LSI(Large Scale Integration，大規(guī)模集成電路)電路加工中的微調(diào)，也是以有限參數(shù)調(diào)整為對象的。因此在1979年以后，SAT法的研究主要朝著更實用化的多故障診斷方向發(fā)（未完，下一頁）
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