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論文 頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
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資料類別
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電子電工畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)） |
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課程(專業(yè))
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單片機(jī) |
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關(guān)鍵詞
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直接數(shù)字頻率合成|FPGA |
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適用年級(jí)
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大學(xué) |
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身份要求
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普通會(huì)員 |
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金 幣
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50 （金幣如何獲得？） |
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文件格式
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word |
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文件大小
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331K |
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發(fā)布時(shí)間
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2009-05-29 21:21:00 |
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預(yù)覽文件
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無(wú) |
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下載次數(shù)
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2 |
| 發(fā)布人 |
lj |
內(nèi)容簡(jiǎn)介：
論文 頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)，共26頁(yè)，12075字
摘要
本文綜述了現(xiàn)在頻率特性測(cè)試儀的發(fā)展情況，分析了頻率特性測(cè)試儀的市場(chǎng)現(xiàn)狀，介紹了頻率特性的概念及頻率特性的兩種測(cè)試方法，對(duì)頻率特性測(cè)試儀的基本原理進(jìn)行了分析，提出基于DDS 的頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案，根據(jù)DDS理論，用FPGA設(shè)計(jì)了測(cè)試儀的掃頻信號(hào)源，用AT89C52單片機(jī)設(shè)計(jì)了測(cè)試儀的主控部分，將FPGA的高可靠、高速的特點(diǎn)與單片機(jī)良好的數(shù)據(jù)處理和控制管理能力結(jié)合起來(lái)，使整個(gè)系統(tǒng)具有了良好的性能。
關(guān)鍵詞:直接數(shù)字頻率合成 FPGA 單片機(jī) 頻率測(cè)試
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