畢業(yè)設(shè)計(jì)論文 數(shù)字IC測試系統(tǒng)
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資料類別
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電子電工畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) |
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課程(專業(yè))
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電子技術(shù) |
關(guān)鍵詞
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數(shù)字IC|測試系統(tǒng) |
適用年級(jí)
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大學(xué) |
身份要求
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普通會(huì)員 |
金 幣
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60 (金幣如何獲得?) |
文件格式
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word |
文件大小
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134K |
發(fā)布時(shí)間
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2007-05-04 22:54:00 |
預(yù)覽文件
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無 |
下載次數(shù)
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9 |
發(fā)布人 |
kj008 |
內(nèi)容簡介:
畢業(yè)設(shè)計(jì)論文 數(shù)字IC測試系統(tǒng),共35頁,13996字
本文介紹了為此項(xiàng)目研制了一種數(shù)字IC測試系統(tǒng),它可以測試TTL74系列的數(shù)字集成電路,采用了硬件優(yōu)化的設(shè)計(jì)方法,系統(tǒng)工作在最小狀態(tài)。它主要由AT89C51、顯示電路、鍵盤電路、測試插座等電路組成的。對(duì)數(shù)字集成電路芯片進(jìn)行測試的基本方法是從輸入端加上所需的激勵(lì)信號(hào),檢測其相應(yīng)的輸出響應(yīng)與預(yù)期的正確結(jié)果進(jìn)行比較,由此來判斷其是否存在故障。因此判斷一個(gè)集成電路芯片是否存在故障,該芯片被檢測出來的功能是否同設(shè)計(jì)規(guī)范一致來判斷;能夠準(zhǔn)確、迅速測量TTL74/54系列20腳以下的數(shù)字集成電路的好壞, 自動(dòng)識(shí)別不知名的集成塊并顯示其型號(hào);體積小,重量輕,攜帶使用方便,顯示清晰,面板上有電源開關(guān)、一個(gè)20腳測試座、四個(gè)操作按鈕外觀簡捷美觀。非常適合科研、生產(chǎn)、維修及廣大電子技術(shù)愛好者使用。
經(jīng)過硬件與軟件的設(shè)計(jì),再通過調(diào)試,完成了本產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。通過實(shí)際的應(yīng)用,證明該系統(tǒng)達(dá)到了一定的技術(shù)要求和測試精度,性價(jià)比高、使用方便、結(jié)構(gòu)簡單、成本低,壽命長,有一定的市場價(jià)值。
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