x射線粉末衍射方法的分析與應(yīng)用
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資料類別
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電子電工畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) |
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課程(專業(yè))
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電子科學(xué)與技術(shù) |
關(guān)鍵詞
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上轉(zhuǎn)換|BaF2 |
適用年級
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大學(xué) |
身份要求
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普通會員 |
金 幣
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70 。金幣如何獲得?) |
文件格式
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word |
文件大小
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317K |
發(fā)布時間
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2011-01-06 08:58:00 |
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無 |
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1 |
發(fā)布人 |
lj |
內(nèi)容簡介:
畢業(yè)設(shè)計(jì) x射線粉末衍射方法的分析與應(yīng)用,共23頁,15057字,附開題報告,任務(wù)書
摘要: 在材料研究工作中,為了獲得所需要性能指標(biāo)的材料,必須考慮適宜的材料合成,制備,加工等研究技術(shù),為了了解所獲得材料的化學(xué)組成,物相組成,結(jié)構(gòu)及各種研究技術(shù)對材料性能的影響。由于X射線的波長與晶體中原子間距屬同一數(shù)量級,應(yīng)用X射線在晶態(tài)和非晶態(tài)物質(zhì)中的衍射和sanshe 效應(yīng),進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的X射線衍射技術(shù);赬射線分析技術(shù)研究物質(zhì)的非破壞性,對物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)和缺陷的靈敏性,以及對組分、結(jié)構(gòu)和缺陷等參數(shù)的單一對應(yīng)性和可定量測量性,使其在材料科學(xué)中得到廣泛應(yīng)用。
為此我們采用X射線粉末衍射方法分析對材料的結(jié)構(gòu)以及組成成分進(jìn)行分析,采用液氮制冷和空冷兩種冷卻方式制備了不同燒結(jié)溫度的系列相同配方Er3+/Yb3+共摻雜BaF2粉末。在粉末受到外界不同條件的影響下,同一燒結(jié)溫度采用空冷制得的樣品相比較,液氮制冷可將樣品的上轉(zhuǎn)換熒光強(qiáng)度提高20倍.各樣品的XRD圖譜表明,經(jīng)兩種方式冷卻后樣品的晶體結(jié)構(gòu)沒有明顯區(qū)別,但采用液氮制冷制得樣品的BaF2平均晶格常數(shù)a和樣品中Yb2O3含量均較采用空冷制得樣品的相應(yīng)參數(shù)略有減小,由此可知液氮制冷有利于更多稀土離子替代基質(zhì)材料中的Ba2+成為發(fā)光中心,提高了樣品的上轉(zhuǎn)換發(fā)光效率。
關(guān)鍵詞: 上轉(zhuǎn)換;BaF2;液氮制冷;空冷;X射線粉末衍射;晶格常數(shù);晶體;燒結(jié)溫度;XRD; Er3+/Yb3+
目錄
摘要 I
ABSTRACT II
第1章 緒論 1
1.1 X射線衍射技術(shù)的發(fā)展 1
1.2 X射線衍射的基本原理 3
1.3 本章小結(jié) 5
第2章X射線粉末衍射對晶體結(jié)構(gòu)的測量 6
2.1 晶體的特征 7
2.2 晶體結(jié)構(gòu)的表示 7
2.3 晶體結(jié)構(gòu)的測定方法 8
2.4 結(jié)構(gòu)中原子間距與鍵角的計(jì)算 .9
2.5 本章小結(jié) 10
第3章 樣品的制備與分析 11
3.1 樣品的制備 11
3.2 樣品圖譜的分析 12
3.3 測量結(jié)果的分析 14
3.4 本章小結(jié) 16
第4章 Er3+/Yb3+共摻對BaF2結(jié)構(gòu)的影響 ....................... .............17
4.1 Er3+離子...................................................... ......17
4.2 Yb3+離子............................................................17
4.3 Er3+/Yb3+共摻對BaF2結(jié)構(gòu)的影響....................... ................17
4.4 本章小結(jié) 18
結(jié) 束 語 19
致 謝 20
符 號 說 明 表 21
參 考 文 獻(xiàn) 22
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