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基于MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng)
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資料類別
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電子電工畢業(yè)論文（設計） |
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課程(專業(yè))
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電信 |
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關(guān)鍵詞
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按鍵壽命|單片機 |
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適用年級
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大學 |
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身份要求
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普通會員 |
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金 幣
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60 （金幣如何獲得？） |
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文件格式
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word |
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文件大小
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1022K |
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發(fā)布時間
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2013-01-30 21:50:00 |
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預覽文件
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無 |
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下載次數(shù)
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1 |
| 發(fā)布人 |
kj008 |
內(nèi)容簡介：
畢業(yè)論文 基于MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng)，說明書共38頁，11891字。
摘要
按鍵的壽命測試是一項重復性、機械性的工作，然而，按鍵的使用壽命是一項需要測試的指標。按鍵的壽命一般在幾十萬次到上百萬次之間，由人工測試幾乎是不可能的，需設計自動按鍵系統(tǒng)對其測試。
本按鍵壽命測試系統(tǒng)是一種測試按鍵使用壽命的設備，其基本工作原理是利用電磁鐵的往復運動來模擬人手敲擊鍵盤的動作。本設計主要實現(xiàn)自動按鍵，將采集到的按鍵次數(shù)等數(shù)據(jù)進行處理并實時的顯示在液晶屏上，從而能直觀的讀出薄膜按鍵被按壓的次數(shù)且最終測出使用壽命。整個系統(tǒng)主要由機械固定裝置和P89LPC936單片機及其相關(guān)外圍電路兩大部分組成。機械固定裝置用來對單片機及其外圍電路、電磁鐵及其驅(qū)動電路分別進行固定并使之在一個工作界面上，且確保電磁鐵探頭的中心點與被測試按鍵的中心點在同一條水平線上，同時底部采用滑軌支架和可移動的滑軌來靈活調(diào)節(jié)兩部分的距離，方便對系統(tǒng)的測試、控制和操作。單片機結(jié)合按鍵掃描電路、液晶顯示電路、蜂鳴報警電路、電磁鐵驅(qū)動電路等子模塊對采集到的按鍵信號進行處理、分析、顯示，并用單片機內(nèi)部EEPROM對數(shù)據(jù)進行保存記錄，其中的錯誤處理方式在檢測到錯誤次數(shù)達到一定值后會自動存儲數(shù)據(jù)并斷開系統(tǒng)來保護整個裝置。本設計是機電結(jié)合的成功應用。
關(guān)鍵詞：按鍵壽命；單片機；電磁鐵
目 錄
摘 要 I
Abstract II
第1章 緒 論 1
第2章 機電結(jié)構(gòu)設計方案 2
2.1 自動按鍵方式的選擇 2
2.2 機電結(jié)構(gòu)設計 2
2.3 機電控制系統(tǒng) 3
第3章 機械固定裝置設計 5
3.1 裝配圖的作用 5
3.2 固定單片機系統(tǒng)底座 5
3.3 可移動加固滑塊 6
3.4 固定電磁鐵底座 6
第4章 硬件系統(tǒng)功能電路分析 7
4.1 P89LPC936單片機概述 7
4.2 電磁鐵驅(qū)動模塊 8
4.2.1 達林頓管TIP127 8
4.2.2 光電耦合器TLP113 9
4.2.3 電磁鐵驅(qū)動電路 9
4.3 按鍵掃描模塊 10
4.3.1 按鍵抖動的成因及消除 10
4.3.2 按鍵掃描電路 11
4.4 液晶顯示模塊 11
4.4.1 驅(qū)動芯片HT1621 11
4.4.2 液晶驅(qū)動電路 13
第5章 系統(tǒng)整體工作原理 15
5.1 技術(shù)參數(shù)分析 15
5.2 系統(tǒng)運行原理 16
第6章 系統(tǒng)軟件設計 17
6.1 編譯語言及編譯環(huán)境 17
6.1.1 匯編語言概述 17
6.1.2 C語言概述 17
6.1.3 編譯環(huán)境概述 17
6.2 程序流程分析 18
6.2.1 系統(tǒng)總體流程框圖 18
6.2.2 自適應處理流程框圖 19
6.3 程序流程綜述 20
6.3.1單片機初始化部分程序 20
6.3.2 按鍵掃描及自適應處理部分程序 20
6.3.3 HT1621驅(qū)動部分程序 22
6.3.4 液晶顯示部分程序 24
6.3.5 輔助按鍵部分程序 24
6.3.6 錯誤處理部分程序 26
6.3.7 EEPROM讀寫部分程序 26
結(jié) 論 28
參考文獻 29
附錄1 系統(tǒng)總體電路圖 30
附錄2 系統(tǒng)實物圖片 31
致 謝 32
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