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2005年全國大學生電子設計競賽 集成運放測試儀
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資料類別
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電子電工畢業(yè)論文（設計） |
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課程(專業(yè))
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儀器分析 |
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關鍵詞
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集成運放|測試儀 |
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適用年級
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大學 |
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身份要求
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普通會員 |
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金 幣
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40 （金幣如何獲得？） |
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文件格式
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word |
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文件大小
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671K |
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發(fā)布時間
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2008-03-09 20:39:00 |
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預覽文件
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無 |
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下載次數(shù)
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5 |
| 發(fā)布人 |
kj008 |
內(nèi)容簡介：
2005年全國大學生電子設計競賽 集成運放測試儀
一 、摘要
本設計采用高速的W77E58單片機作為控制核心芯片，改進題目所提供的測試原理電路，用單片機控制實現(xiàn)了對被測運放多個參數(shù)的自動循環(huán)測試。使用者可以通過鍵盤輸入待測參數(shù)，然后單片機控制繼電器設定合適的電路狀態(tài)。輸出經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換送入單片機處理、計算出待測運放的參數(shù)。由LCD顯示以及外接打印機打印測試結(jié)果。此外，測量時需要的5Hz信號源及40KHz~4MHz的掃頻信號由W77E58控制DDS集成芯片產(chǎn)生。
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